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Niton XL2 Plus 是一款專為應(yīng)對嚴(yán)苛工業(yè)環(huán)境挑戰(zhàn)而設(shè)計的高性能、多功能手持式X射線熒光（XRF）分析儀，旨在提供快速、準(zhǔn)確且可靠的現(xiàn)場元素分析。

高靈敏度與準(zhǔn)確性：

配備 2W X射線管 和 新一代硅漂移探測器 (SDD)，確保每次測量都具有高靈敏度和低檢測限。

采用 智能基本參數(shù)法 (FP) 校正樣品基體效應(yīng)，確保在不同材料（如合金、礦石、土壤）上都能獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。

堅固耐用，適應(yīng)惡劣環(huán)境：

具有 IP54 防護(hù)等級，能夠有效防塵、防潮，確保在潮濕、多塵的工業(yè)現(xiàn)場穩(wěn)定運行。

配備標(biāo)準(zhǔn)的 Detector ProGuard 保護(hù)裝置，可有效降低在分析尖銳物品時探測器被穿刺的風(fēng)險。

操作簡便，高效便捷：

擁有 簡潔的觸摸屏界面，支持通過觸摸或可選的方向鍵進(jìn)行快速導(dǎo)航，操作直觀。

采用 熱插拔電池 設(shè)計，可在不關(guān)機的情況下更換電池，保證長時間連續(xù)工作，提高現(xiàn)場工作效率。

集成 微型攝像頭 和 鼻錐防護(hù)準(zhǔn)直裝置，幫助操作員精確定位測量點，確保每次測量的準(zhǔn)確性。

多功能應(yīng)用：

能夠快速識別純金屬和合金牌號。

可用于檢測材料中的雜質(zhì)元素。

支持地球化學(xué)分析，獲取礦石品位數(shù)據(jù)。

可測量單個元件層的涂層厚度。

適用于金銀等貴金屬的成分分析。

主要應(yīng)用領(lǐng)域

材料驗證：在生產(chǎn)過程中驗證所使用的金屬和合金。

質(zhì)量保證/質(zhì)量控制 (QA/QC)：在來料檢驗和生產(chǎn)過程中正確鑒別材料，確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)。

廢料回收：在廢料場進(jìn)行自動分揀，快速區(qū)分不同種類的金屬。

涂層分析：測量金屬表面鍍層（如鍍鋅、鍍鉻）的厚度。

貴金屬分析：用于珠寶、回收金等領(lǐng)域的貴金屬（金、銀、鉑、鈀等）純度分析。

礦業(yè)與勘探：用于礦石貿(mào)易、品位控制和地球化學(xué)勘查。