MiniTest 7400測厚儀精密支架的詳細資料：

德國EPK MiniTest 7400測厚儀

涂層測厚儀：

采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

特征：

• 統計過程控制
• 加硬探頭頂部
• 高度鋼球確保測量的重現性
• 每秒讀數多達20個
• 內置數字信號處理傳感器
• 多點校準可達5點
• 大面積易讀數顯示屏
• 顯示zui小zui大值
• 菜單控制界面
• 上下關聯的在線幫助

探頭技術參數：

1.多點校準,在實驗室條件下符合提供的標準

2.零點校準，并且校準值和預期的涂層厚度接近

3.使用精密支架，不適用HD探頭

4.如果選擇“快速”，測量速度主要取決于操作

5.根據 DIN 55350第13部分

6.多點校準值優于獲得的數據.

7.包括涂層

篤摯儀器主要經營的儀器有EPK壁厚測厚儀MiniTest FH7200   FH4探頭   測頭FH 4.1   EPK壁厚測厚儀MiniTest FH7400   EPK涂層測厚儀探頭Printer MiniPrint7000  A/B掃描超聲波測厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC    超聲波測厚儀TT130   超聲波測厚儀TT120   高精密超聲波測厚儀PX-7DL   高精密超聲波測厚儀PX-7   A/B掃描高精密超聲波測厚儀PVX   超聲波測厚儀TT100   高精密超聲波測厚儀CL400探頭   帶A/B掃描功能的超聲波測厚儀MVX   高精密超聲波測厚儀CL5   超聲波測厚儀TT110  超聲波測厚儀MMX-6   A/B掃描超聲波測厚儀DMS Go   水下超聲波測厚儀UMX-2  超聲波測厚儀MMX-6DL  一體化超聲波測厚儀PocketMIKE  超聲波測厚儀PosiTect0rUTG Std   超聲波測厚儀MX-3  超聲波測厚儀MX-5    超聲波測厚儀PosiTect0rUTGME   超聲波測厚儀MX-5DL    超聲波測厚儀DM5E Basic   超聲波測厚儀DM5E   超聲波測厚儀DM5EDL   濕膜測厚儀WetTest   德國EPK GalvanoTest小樣品夾具   德國EPK庫侖鍍層測厚儀GalvanoTest 2000    超聲波涂層測厚儀PosiTector200   庫侖鍍層測厚儀GalvanoTest 3000   涂層測厚儀